背光反射计OBR6415
产品介绍
LUNA6415作为光子集成电路和硅光芯片的理想测试工具，得益于其超高的灵敏度和空间分辨率（20μm）。LUNA6415还具备单台仪器通过选择反射或者透射模式就能完成IL、RL、长度等所有测试，大大降低了测试成本，同时简化了测试流程。相比其他测试系统，将大大增加测试产量等优势。
| 特色： | |
| * 回损RL和插损IL的分析 | |
| * 跟踪光路中回损RL的分布情况 | |
| * 检查器件内部评估每一个连接处的RL和IL | |
| * 回损RL和插损IL的光谱分析 | |
| * 探测并准确定位反射面的位置和光路长度 | |
| * 在速度、分辨率和精度要求上为产品提供最佳测试方案 | |
| * 20μm采样分辨率 | |
| * 20m测量范围 | |
| * 6Hz扫面/存储速度 | |
| 应用： | |
| * 空间回损RL分布测试 | |
| * 插损IL自动测试与分析 | |
| * 斜角测量可以达到亚皮秒级 | |
| * 测试PLC、光波导器件、AWG、ROADM等 | |
| * 测试光耦合器、光开关、分束器 |
产品参数
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