偏振相关损耗测试仪 PDL-201

采用专利最大最小搜索技术，LUNA公司的PDL测量仪能在30ms内，同时测量待测器件的偏振相关损耗（PDL），插入损耗（IL）和光功率。使用扰偏法测量的PDL具有很高的不确定性。与这种方法不同，PolaCHEXTM有条理地搜索最大和最小透过率，确保了具有较高和较低PDL值的器件在任何时刻的测量精度。因此可获得最精确的PDL值。PolaCHEX覆盖了较宽的波长范围：1260~1620 nm，无需波长校准，比基于Mueller矩阵方法测得的PDL值更准确。它带有USB、以太网、GPIB和RS-232接口，用于电脑控制。它能快速、精确测量与波长相关的无源器件的特性，尤其适用于制造或实验室中DWDM、光纤传感元件。与PDL-101相比，PDL-201具有较快的测量速度，较大的测量动态范围，更明亮的显示屏，以及用于集成的附加模拟输出端口。

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