CWDM无源器件测试解决方案

基本概述：

CWDM粗波分复用（Coarse Wavelength Division Multiplexing）: 泛指工作在从1270nm到1610nm的范围内，其信道间距为20nm，共18个波长CWDM无源器件。

CWDM器件制造工艺流程

方案描述:

CWDM光无源器件生产领域中，昂贵的测试仪器占了测试成本的很大一部分，其中OSA，宽带光源则是仪器中最为昂贵的部分，充分利用宽带光源，OSA，多工位共享仪表资源是有效降低测量成本的主要方法。

CWDM反射调光：

CWDM透射调光:

CWDM高低温测试，高温老化测试，成品测试框图：

CDWM调光调试-PDL测量（可选）

偏振相关损耗PDL--光源、偏振控制器、OPM（必须对偏振不敏感，使用积分球）

方案优势:

自动化测试系统采用计算机/服务器，分时共享模式，通过USB或网线通信、软件控制方式，把多台计算机和仪器有机结合起来，实现多个工位控制共享单台宽带光源和OSA仪器，从而突破了传统台式仪器的局限性，达到了共享昂贵资源，降低测试成本的目的。
基本测试框图如下（仪1X4 CWDM模块为例）：

SLED宽带光源作为测试光源:

优点：光谱范围宽，光谱功率密度高，测试效率高，成本适中，是目前理想的宽带测试光源方案之一。
SLED宽带光源可以覆盖整个CWDM频谱范围（组合输出可覆盖1270~1620 nm ），在这个范围内光功率密度比LED光源约大3个数量级因此CWDM的隔离度指标可测到50dB以上

应用:

CWDM器件、模块多功能自动扫描测试系统