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背光反射计OBR6415

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LUNA6415作为光子集成电路和硅光芯片的理想测试工具,得益于其超高的灵敏度和空间分辨率(20μm)。LUNA6415还具备单台仪器通过选择反射或者透射模式就能完成IL、RL、长度等所有测试,大大降低了测试成本,同时简化了测试流程。相比其他测试系统,将大大增加测试产量等优势。

特色:
* 回损RL和插损IL的分析
* 跟踪光路中回损RL的分布情况
* 检查器件内部评估每一个连接处的RL和IL
* 回损RL和插损IL的光谱分析
* 探测并准确定位反射面的位置和光路长度
* 在速度、分辨率和精度要求上为产品提供最佳测试方案
* 20μm采样分辨率
* 20m测量范围
* 6Hz扫面/存储速度
应用:
* 空间回损RL分布测试
* 插损IL自动测试与分析
* 斜角测量可以达到亚皮秒级
* 测试PLC、光波导器件、AWG、ROADM等
* 测试光耦合器、光开关、分束器


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