测试设备

背光反射计OBR6410
LUNA 6410是一款快速,简单易用的高精度背光反射计,广泛适用于光无源器件和系统的测试,包括光纤组件,PLC,连接器,光开关,耦合器等。LUNA 6410可以测试光器件和系统的插损和回损的分布损耗。特色:* 分布式回损RL和插损IL的分析* 超高分辨率分析器件内部回损情况* ...
查看详情
RLM多芯插回损仪模块
维度科技多芯插回损测试仪采用高稳定度光源和高精度光功率计,实现免缠绕的回损测试和高速的插入损耗测试。单次单波长损耗检测时间小于0.5s,最低能够实现-75dB的回波损耗探测。RLM包含单模与多模共6个测试波长(多模:850nm、1300nm,单模:1310nm、1490nm、15...
查看详情
RLM单芯插回损仪模块
维度科技单芯插回损测试仪采用高稳定度光源和高精度光功率计,实现免缠绕的回损测试和高速的插入损耗测试。单次单波长损耗检测时间小于0.5s,最低能够实现-75dB的回波损耗探测。RLM包含单模与多模共6个测试波长(多模:850nm、1300nm、单模:1310nm、1490nm、15...
查看详情







